用高真空磁控溅射设备分别在工作气压为0.40 Pa和0.67 Pa下制备了非晶碳膜全反射镜样品，利用X射线掠入射反射测量了膜层厚度、粗糙度和膜层密度，用原子力显微镜测量了样品的表面粗糙度，用同步辐射测量了不同工作气压下制备的非晶碳膜全反射镜的反射率，并对测量结果进行了分析讨论.测试结果表明：在0.40 Pa工作气压下制备的非晶碳膜反射镜的性能优于在0.67 Pa工作气压下制备的反射镜的性能，在掠入射角小于4.5°时，非晶碳膜全反射镜在5 nm以上波段有比较平坦的高反射率，在波长小于5 nm波段，反射率急剧下降.

研究了极紫外波段的双功能光学元件。采用周期膜叠加的思想, 运用遗传方法优化设计了在19.5 nm处高反, 在30.4 nm处抑制的双功能多层膜。采用磁控溅射技术制备了多层膜, 利用X射线衍射仪测试了多层膜的结构, 在国家同步辐射实验室测试了双功能多层膜的反射特性。结果表明：制备出的双功能膜性能与设计相符, 在入射角13°, 19.5 nm处的反射率达到33.3%, 接近传统的19.5 nm周期高反膜的反射率, 并且在30.4 nm附近将反射率由1.1%降到9.6×10-4。

基于三种不同评价函数,利用全局优化算法设计了极紫外波段高性能反射式多层膜偏振元件。通过比对不同评价函数的设计结果, 分析了评价函数、工作角度及膜层数对反射式多层膜偏振片性能的影响, 确定了极紫外多层膜反射式偏振片设计的角度选择、膜层数选择及评价函数选择标准。为解决传统的单一性能优化造成的偏振度损失的问题, 构造了偏振比对数结合反射率的评价函数, 该方法设计的偏振元件性能优于传统优化方法设计的结果。

Aperiodic molybdenum/silicon (Mo/Si) multilayer designed as a broadband reflective mirror with mean reflectivity of 10% over a wide wavelength range of 12.5–28.5 nm at incidence angle of 5? is developed using a numerical optimized method. The multilayer is prepared using direct current magnetron sputtering technology. The reflectivity is measured using synchrotron radiation. The measured mean reflectivity is 7.0% in the design wavelength range of 12.5–28.5 nm. This multilayer broadband reflective mirror can be used in extreme ultraviolet measurements and will greatly simplify the experimental arrangements.

用小波变换的方法分析了纳米多层膜的X射线掠入射反射率测试曲线.从小波变换的自相关函数峰位和峰强度信息中得到了常规曲线拟合方法难以表征的含有氧化层、界面层或厚度漂移的多层膜结构, 利用其作为多层膜的初始结构再进行常规的曲线拟合, 可实现多层膜结构精确表征的目的.研究成功地鉴别出钒单层膜的表面存在约3 nm厚的氧化层,分析得到Mo/Si多层膜的界面纯粗糙度约0.42 nm,表明在Ni/C多层膜中接近表面和基底的膜层存在大于5%的厚度漂移.

运用遗传算法优化设计了Mo／B₄C多层膜结构。入射光入射角度取10°时，设计的理想多层膜膜对数为150，周期为3．59nm，Gamma值(Mo膜厚与周期的比值)为0．41，峰值反射率为33．29%。采用恒功率模式直流磁控溅射方法制作Mo／B₄C多层膜。通过在Mo／B₄C多层膜与基底之间增加15 nm厚的Cr粘附层，提高多层膜与基底的粘附力。另外，还采用调整多层膜Gamma值的方法减小其内应力，调整后多层膜结构周期为3．59 nm，Mo膜厚1．97 nm，B₄C膜厚1．62 nm，峰值反射率26．34%。制备了膜对数为150的Mo／B₄C膜并测量了其反射率，在波长7．03 nm处，Mo／B₄C多层膜的近正入射反射率为21．0%。最后对测量结果进行了拟合，拟合得到Mo／B₄C多层膜的周期为3．60 nm，Gamma值0．60，界面粗糙度为0．30 nm。

Intrinsic stresses of carbon films deposited by direct current (DC) magnetron sputtering were investigated. The bombardments of energetic particles during the growth of films were considered to be the main reason for compressive intrinsic stresses. The values of intrinsic stresses were determined by measuring the radius of curvature of substrates before and after film deposition. By varying argon pressure and target-substrate distance, energies of neutral carbon atoms impinging on the growing films were optimized to control the intrinsic stresses level. The stress evolution in carbon films as a function of film thickness was investigated and a void-related stress relief mechanism was proposed to interpret this evolution.

研究了荧光谱线分布对共焦荧光显微镜中分辨率的影响,导出了荧光谱线分布的荧光功率传输函数、三维脉冲响应函数.数值计算了荧光谱线均匀分布的情况,结果表明:与采用单一中心荧光波长的分辨率比较,共焦荧光显微镜的横向分辨率、纵向分辨率随着荧光谱线范围和色散的增大而下降;谱线响应范围小的探测器有利于分辨率.