作者单位
摘要
中国科学技术大学 工程科学学院,安徽合肥230031
传统的长焦深光束生成器件,诸如空间光调制器和正负透镜组合,存在光学元件尺寸较大、难以与微纳光学系统集成等问题,发展一种长焦深光束生成方法并制备一种结构简单、尺寸紧凑且成像质量良好的长焦深光束器件尤为重要。提出了一种利用连续立方相位板调制来产生长焦深光束的方法,通过飞秒激光直写技术制备了高尺寸精度(直径为108 μm,高1.1 μm)的相位板,实现了可调控的焦距长度(50~150 μm)和焦深(100~600 μm),并且对相位板进行光学测试,展示了其长聚焦能力和成像能力。该器件可用于高性能集成光学系统、微纳光学制造等领域。
飞秒激光加工 长焦深光束 相位板 光学仿真 光学测试 femtosecond laser fabrication long depth of focus beam phase plate optical simulation optical testing 
光学 精密工程
2022, 30(17): 2088
作者单位
摘要
北京空间机电研究所,北京 100190
采用滤光片进行带通滤光是航天遥感相机实现多谱段成像的主要手段。滤光片一般使用平板玻璃作为基体,在平板玻璃两个通光表面镀带通的光学膜层,实现滤光的作用。所以对于滤光片而言,可以使用平面波透射波前评价其成像性能。干涉仪使用的测量光为单波长,无法实现全谱段覆盖。随着滤光片使用谱段数量的不断增加,干涉仪激光波长将不在滤光片的带通范围内,导致无法对其透射波前进行测试。为了解决滤光片带通谱段不包含干涉仪使用波长下的透射波前评价难题,提出了一种解决方案,使用单谱段干涉仪,结合滤光片镀膜前的前、后表面面形和透射波前、镀膜后的前后表面面形数据,研发了一种平面波透射波前的计算算法,得到仿真的镀膜后滤光片的透射波前数据,并以此来评价滤光片的成像性能。给出了透射波前仿真算法的详细理论推导。试验数据表明,在使用632.8 nm干涉仪波长下,滤光片镀膜后透射波前RMS的仿真精度小于0.004λ。该方法能够扩展应用在红外滤光片的测试中,实验使用3.39 μm的干涉仪测试,得到仿真误差约为0.002λ,均能实现较高精度。且在满足测试精度的前提下,有效降低了测试成本。
透射波前 滤光片 平面波 光学测试 transmitted wavefront filter testing plane wave optical testing 
红外与激光工程
2021, 50(9): 20200528
刘锋伟 1,2吴永前 1,2,*陈强 1,2刘海涛 1,2[ ... ]伍凡 2
作者单位
摘要
1 中国科学院光电技术研究所先进光学研制中心,四川 成都 610209
2 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209
3 中国科学院大学,北京 100049
在光学系统中使用非球面可以有效校正像差,改善像质,进而简化系统结构;并且增大系统口径可以从根本上提高系统的分辨本领,因此在基础科学研究、天文学宇宙探测以及**安全等领域都对大口径非球面镜有着迫切需求。大口径非球面的制造在现代光学制造工程中扮演着重要的角色。本文以大口径非球面镜的先进制造为主题,对大口径非球面镜的光学加工技术,特别是研磨抛光技术及其过程中所采用的面形检测方法进行了综述,特别总结了新一代先进光学制造的技术特征,展望了未来大口径非球面镜的制造策略。
大口径非球面 光学加工 光学测试 large-aperture aspheric mirror optical manufacturing optical testing 
光电工程
2020, 47(10): 200203
作者单位
摘要
航天工程大学 宇航科学与技术系, 北京 100048
雾化场粒径测量对于测试和评价喷雾性能意义重大, 总结分析光学粒径测量技术手段十分重要。介绍了喷雾的基本原理及粒径数学表征; 论述了喷雾场测试中主流及新兴的粒径光学测试方法如光散射、平面结构光照明、相位多普勒分析仪、激光全息技术、双光谱成像等方法的原理及特点, 列举了这些测试方法的典型应用场合。针对喷雾场测试中存在的问题分别进行总结评述并进行对比分析, 对喷雾场粒径测量中如何恰当选取测试方法给出具体的参考建议。
激光技术 喷雾粒径测量 光学测试方法 光散射 laser technique spray particle size measurement optical testing technology light scattering 
激光技术
2019, 43(5): 702
作者单位
摘要
四川大学电子信息学院, 四川 成都 610065
提出了一种基于数字图像相关(DIC)的散斑图形偏折术(SPD),将二维DIC用于测量镜面的三维面形。用散斑位移代替条纹形变,使偏折术的测量过程更简单高效,只需拍摄两幅散斑图,面形检测精度可以达到微米量级。介绍了SPD的原理与方法,推导了相关公式,对散斑图进行了设计制作。实验测量了一块有机玻璃板的面形,与相位测量偏折术的结果对比,其测量精度接近1 μm。
测量 光学测试 面形 数字图像相关 偏折术 散斑图形 
光学学报
2019, 39(2): 0212006
作者单位
摘要
西安交通大学 机械制造系统工程国家重点实验室, 西安 710049
为了减小非球面环形子孔径拼接测量时的中心偏移误差, 根据检测原理及几何关系, 分析了中心偏移误差在面形测量中的作用机理, 推导了中心偏移误差模型, 并在此基础上提出了一种基于二维像素矩阵的中心偏移误差补偿方法.该方法可以有效地得到初始面形测量数据的中心偏移量, 在拼接之前减小由中心偏移误差引起的波前偏差的剔除误差, 同时减小各环形子孔径中心之间的偏差.利用Zygo干涉仪进行了非球面环形子孔径拼接的中心偏移误差补偿实验, 与零位检测结果相比, 峰谷值残差为-0.015λ, 均方根残差为0.003λ, 表明该补偿方法大大减小了面形测量误差, 提高了环形子孔径拼接的测量精度.
光学测试 环形子孔径拼接 二维像素矩阵 非球面 中心偏移误差 Optical testing Annular subaperture stitching Two-dimensional matrices of pixel Aspheric surface Center offset error 
光子学报
2016, 45(9): 0912001
作者单位
摘要
北京空间机电研究所,北京 100190
在现代的空间光学遥感器中, 越来越多地使用二次非球面光学元件代替以往的球面光学元件, 消除球面镜不能消除的像差。二次非球面的几何参数包括其顶点曲率半径和非球面系数, 它们对相机的性能有着重要的影响。三座标仪的使用使得二次非球面几何参数的测量变得方便快捷。在三坐标测量数据基础上, 给出了一种新型的二次非球面几何参数计算方法, 通过采集座标点、寻找旋转轴、计算法线像差等步骤求解出顶点曲率半径和非球面系数。通过仿真分析和实验验证, 顶点曲率半径的计算精度可达0.01%, 非球面系数的精度可达0.0002。
光学测试 几何参数 非球面系数 顶点曲率半径 二次曲面 optical test geometric parameters aspheric coefficient vertex radius conic surface 
应用光学
2015, 36(6): 900
作者单位
摘要
1 南京信息工程大学物理与光电工程学院, 江苏 南京 210044
2 南京理工大学电光学院, 江苏 南京 210094
以大口径斐索卧式移相干涉仪为研究对象,研究以压电陶瓷(PZT)实现移相为代表的大口径干涉仪所包含的技术难点和解决方案,主要包括大口径平晶的支撑技术与绝对校准、动态波面测试、大口径波面测试技术、移相器在线测试等关键技术,为更大口径的干涉仪的研制提供理论基础研究和关键技术储备。
测量 光学测试 大口径干涉仪 PZT移相 关键技术 
光学学报
2014, 34(s1): s112011
作者单位
摘要
1 四川大学电子信息学院, 四川 成都 610065
2 视觉合成图形图像技术国家重点学科实验室, 四川 成都 610065
斜率传感的平面元件面形检测是基于光线反射的几何原理和相位测量偏折术方法的光学面形检测技术,它能够快速、简便、准确地测量非球面面形及透射光学元件波前,也称偏折术或逆哈特曼测试系统。推导了平面元件斜率检测公式和面形恢复算法,使用可编码条纹的液晶显示器作为照明光源,四步相移法来识别显示器像素点坐标。针孔摄像机采集被测表面对条纹所成的像,将该系统用于有机玻璃板在加热条件下的面形测量,经计算机处理得到被测表面斜率数据。用方形域内标准正交矢量多项式拟合计算斜率数据得到有机玻璃板面形信息,对面形信息对比分析,然后对有机玻璃板在加压条件下的斜率变化进行了检测,与激光反射法计算的斜率变化结果进行对比。结果表明,该测试系统有动态范围大、装置简单、速度快、非接触、测试精度高等特点,为实际生产和应用提供了一种检测平面面形及动态变化过程监测的新手段。
测量 光学测试 面形 矢量多项式 偏折术 斜率 
光学学报
2014, 34(s1): s112004
作者单位
摘要
长春理工大学 光电工程学院, 长春 130022
在10℃~230℃温差下, 对大气相干长度r0分别采用夏克哈特曼的到达角起伏法、差分像运动法、波面法三种测量法和四象限探测器进行了测试和对比;对折射率结构常量C2n及闪烁功率谱分别采用夏克哈特曼和光电倍增管进行对比.实验结果表明:对于r0, 在强湍流时四象限探测器比夏克哈特曼的稳定性明显降低, 且对夏克哈特曼三种方法, 差分像运动法可克服设备抖动等问题, 但引入了方向上不一致的问题, 波面法可有效避免该问题;对于C2n, 夏克哈特曼比光电倍增管测量更稳定, 拟合相关系数高达0.96;对于闪烁功率谱, 由于噪音影响, 在200℃时夏克哈特曼比光电倍增管测得的最大频率高15 Hz;最后, 通过对夏克哈特曼子孔径的闪烁功率谱分析得出, 若同一子孔径入射光强不在CCD响应的线性区间时无法准确测量闪烁功率谱, 否则可通过不同子孔径可完成湍流均匀性的测量.这将为湍流池提供最优的测试方法及理论依据.
湍流模拟池 光学测试 夏克哈特曼 闪烁功率谱 到达角起伏 光强闪烁 Turbulent simulation cell Optical test ShackHartmann Scintillation power spectrum Angle of arrival fluctuation Intensity scintillation 
光子学报
2012, 41(7): 805

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