1 中国科学技术大学 微电子学院, 合肥 230026
2 中国电子科技集团公司 第三十八研究所, 合肥 230088
为了改善波束成形质量，基于相控阵芯片幅度和相位校准系统，提出了一种校准算法。在计算出每个状态的误差后，只需要遍历一次所有相控阵芯片的状态，就可以筛选出目标状态，生成查找表。筛选时，对每个状态的幅度误差、相位误差和使用CORDIC计算出的所有目标状态的RMS误差进行约束，可以使相控阵芯片实现误差(RMS)小于2°的6位移相(360°)和误差(RMS)小于0.3 dB的6位衰减(32 dB)。与穷举搜索和逐次逼近的方式相比，提出的校准算法节省了LUT的生成时间。根据此算法，使用65 nm CMOS工艺设计了一个自校准芯片，面积为584 613.16 μm2。
相控阵 自校准 phased array self-calibration LUT LUT CORDIC CORDIC
