作者单位
摘要
合肥京东方显示技术有限公司,安徽 合肥 230012
为了解决传统小尺寸液晶面板缺陷寻址方法应用在高分辨率、大尺寸液晶面板上存在的效率低、精度差等问题,建立了全自动缺陷精确寻址系统,并对该系统硬件与软件的架构及实施方式、缺陷的定址逻辑进行研究。首先,在点灯检测设备的基础上增加可移动光学相机机构和相应的软件架构,构建成寻址中控系统;然后,通过相机拍摄液晶面板自身显示的空心十字光标与缺陷重合前后的图片,采用对比的方法精确定位缺陷;最后,通过液晶面板驱动装置输出缺陷坐标。对5种缺陷进行测试,结果表明,该系统稳定易用,具有全自动、识别速度快和100%精确寻址等优点。该系统应用于H公司缺陷坐标寻址工序后,缺陷坐标准确性提升30%以上,缺陷维修收益显著提升,在大尺寸液晶面板缺陷维修坐标寻址领域具有重大应用价值。
大尺寸 液晶面板 缺陷坐标 精确定位 large size LCD panel defect coordinates accurate addressing 
液晶与显示
2022, 37(12): 1561
作者单位
摘要
惠科光电科技有限公司 研发中心,四川绵阳621000
提出了一种应用于驱动频率变动的TFT LCD面板光学校正方法。首先基于时序、电压(VGH/VGL/VCOM)对驱动频率变动的TFT LCD面板光学性能的影响,进行时序和电压的优化,然后通过T‑Con ACC光学补偿功能,对最小与最大驱动频率下的光学数据差异进行补偿,降低频率变化时面板的光学波动。对比了校正前后驱动频率变动状态下的TFT LCD面板的光学稳定性。实验结果表明:光学校正后的TFT LCD面板在驱动频率变动时,可表现出更高的光学稳定性。
液晶面板 驱动频率变动 光学补偿 TFT LCD panel Variable Refresh Rate(VRR) brightness compensation algorithm 
光电子技术
2022, 42(2): 148
作者单位
摘要
福州京东方光电科技有限公司, 福建 福州, 350300
色偏是评价面板显示性能的重要指标之一。为评估面板关键因素对色偏的影响, 使理论模拟结果符合实际测试结果, 本文研究了ADS类产品子像素状态和偏光片本征模式对面板色偏的影响。首先, 基于RGB &RGBW产品的模拟和测试结果, 理论阐述了两种彩膜方案对色偏的影响, 在此基础上提出一种新的ADS类产品色偏评价方法, 即考虑不同灰阶相邻子像素的相互影响, 对目标子像素的三刺激值进行叠加运算, 进而输出色偏模拟值。在超大视角(θ=-80°, 80°)下, ΔE模拟值与实测值的差值由现有方法的0.19和0.17降低为0.03和0.05。其次比较了偏光片本征模式对色偏的影响, 结果表明ADS双畴设计下O-mode具有色偏优势。本文提出的色偏计算方法与现有方法相比, 对面板色偏拟合效果更好, 同时对于ADS类面板而言, 偏光片O-mode模式是一种能够减轻色偏的设计。
ADS液晶显示器 色偏模拟 偏光片本征模式 ADS LCD panel color shift simulation polarizer optical eigenmode 
液晶与显示
2019, 34(4): 361
作者单位
摘要
北京京东方显示技术有限公司, 北京 100176
对盒精度提升是高世代TFT-LCD面板生产线产品小型化、薄型化、高PPI(300+)与高开口率升级的必备核心技术。通过阵列(Array)与彩膜(CF)关键位置/尺寸匹配性优化与离散性优化, 首次尝试阵列关键位置精度(TP)非线性补正功能, 并钻研成盒(Cell)过程中基板翻转稳定化、封框胶设计与涂布工艺优化, 实现电视机、显示器、笔记本、平板电脑等产品对盒精度由7.5 μm降低至5.5 μm; 在解决显示器产品按压 Mura与平板电脑产品像素漏光的同时, 对产品开口率的贡献也随着产品PPI的升高而增加, PPI 300+产品的开口率余量提高14.8%, 有效提升了高世代TFT-LCD面板生产线小尺寸/高PPI产品核心竞争力、收益性和产品群组合。另外, 本文建立高世代TFT-LCD面板生产线对盒精度分析方法、对策检讨及改善的标准流程, 形成新产品阵列TP非线性补正和对盒 辅助封框胶的设计基准。
TFT-LCD面板 对盒精度 阵列 彩膜 成盒 真空对盒 关键位置精度非线性补证 封框胶 TFT-LCD panel Ass’y margin array CF cell vacuum assembly system(VAS) total pitch non-linear offset sealant 
液晶与显示
2019, 34(2): 136
作者单位
摘要
昆山龙腾光电有限公司, 江苏 昆山 215301
为了满足市场对LCD面板高分辨率、窄边框的需求,面板设计引入了玻璃上集成栅极驱动设计.本文对传统液晶显示面板栅极电路设计做了介绍,分析了集成栅极驱动电路技术在实现显示面板窄边框化时的优缺点.提出了一种新型栅极驱动电路,将空间控制转化为时间控制,使用一条栅极走线控制两行甚至多行像素.模拟分析结果表明:新型栅极驱动电路在关态下会产生2.5 V的较小噪声;栅极信号的上升沿及下降沿的时间延迟总和只有 3.5 μs,可以实现像素节点的正常充放电并完成显示面板的正常显示.同时,本文提出的新型驱动电路可成倍减少显示面板边框栅极走线数量,减少栅极走线所占用的空间,实现高分辨率高解析度显示面板的窄边框化设计.
液晶显示面板 栅极驱动电路 高分辨率 窄边框 LCD panel gate driver high resolution narrow border 
液晶与显示
2015, 30(3): 467
作者单位
摘要
河北冀雅电子有限公司 河北 石家庄 050071
文章回顾、梳理了全球范围内无源液晶显示面板市场近年来的主要变化脉络, 涉及其市场规模、产地分布、厂家动态、细分市场等层面; 对TN/STN面板的市场前景和技术发展进行了展望。
无源液晶显示 市场 分析 passive LCD panel market analysis 
现代显示
2013, 24(3): 49
作者单位
摘要
1 汕头超声显示器有限公司, 广东 汕头 515065
2 广东省汕头市质量计量监督检测所, 广东 汕头 515041
为了改善车机LCD显示屏ghost现象,采用了模拟不同条件下产生ghost现象对比分析的方法,做了车机LCD显示屏不同电阻值、不同电容和液晶不同陡度等实验,获得降低阻值、减小电容、提升液晶陡度都能有效减弱车机LCD显示屏ghost现象的结果,得到通过对这三方面的改进,能有效改善车机LCD显示屏ghost现象的结论。
LCD屏 电阻值 电容值 陡度 LCD panel ghost Ghost resistance capacitance steepness 
现代显示
2012, 23(7): 27
作者单位
摘要
南京信息职业技术学院, 江苏 南京 210036
无源LCD面板及触摸屏制作过程通常采用湿法刻蚀的方法来制作ITO电极图形,在生产过程中要用到光刻胶、刻蚀液、脱膜液等对环境有污染的材料,而对这些生产过程中的污染物要进行环保处理后才能排放。且工艺过程长,加工成本较高,加工后的ITO图形存在明显的缺陷,如ITO电极线条边缘有毛刺等。文章介绍了一种用激光刻蚀的方法来代替传统的湿法刻蚀方法,来加工用于无源LCD面板及触摸屏等平板显示器的ITO电极图形方法,缩短了工艺过程以及节约了成本、提高了产品质量。
无源 LCD面板 刻蚀 激光 湿法 passive LCD panel etching laser wet process ITO ITO 
现代显示
2011, 22(10): 12
作者单位
摘要
上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海 200240
以化学蚀刻薄化技术为课题,介绍了化学蚀刻的原理、方式;TFT-LCD液晶面板经过HF溶液化学蚀刻后,原来的单片玻璃厚度从0.7mm减薄至0.5mm厚度,薄化后的液晶面板经后段生产组装成LCM模块,经过各项可靠性分析来验证产品可能出现的问题,为TFT-LCD生产中的化学蚀刻薄化技术提供参考。文章主要探讨了TFT-LCD薄板化生产,包括化学蚀刻方式、产品的性质,产品的可靠性项目等。
化学蚀刻 液晶面板 薄板化 chemical etching LCD panel thin'ning 
现代显示
2009, 20(5): 35
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京,210016
介绍了TFT-LCD屏亮度指标的测量方法,详细分析了测量过程中的误差来源,进一步计算出其合成标准不确定度和扩展不确定度,从而有了判定产品合格与否的依据.
TFT-LCD彩色显示屏 亮度 误差 扩展不确定度 the color TFT LCD panel luminance error expanded uncertainty 
光电子技术
2004, 24(2): 148

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