采用机械按键编程方式的直流稳压电源存在按键易磨损、电路构成复杂等问题。为解决上述问题, 设计了一种基于STM32F7的可编程数字电源TFT液晶屏触摸显示系统。该系统的硬件由STM32F7处理器、TFT液晶触摸屏、SDRAM芯片、电源模块组成, STM32F7用于驱动TFT液晶屏, 并通过LTDC扩展外部SDRAM作为显存, 电源模块为显示屏提供背光电压。软件利用FreeRTOS实时操作系统管理调度系统任务, 并利用emWin进行图形界面设计, 采用DMA方式读取数据。该显示系统电路简单, 显示性能稳定可靠, 可对电源系统进行触摸控制。实验结果表明: 该系统显示效果清晰, 控制响应快, 能对电源系统进行实时控制和监测显示。该系统利用TFT触摸屏实现了可编程电源的人机交互功能, 为TFT触摸屏在电源领域的应用提供了参考。

通过对Oncell触摸屏工艺(TSP)Bubble的定性分析与产生机理研究, 发现液晶扩散不足和玻璃基板形变量大是不良产生的直接原因, 并分别从产品设计、工艺参数、材料性能等方面进行改善性研究。实验结果表明:1)在产品设计上优化液晶滴下位置和框胶与聚酰亚胺配向膜间距;2)在工艺参数上管控真空贴合保持时间和ODF产出到TSP投入的间隔时间;3)在材料性能上提升玻璃基板厚度和框胶粘合力等, 均有利于TSP Bubble不良的改善, 最终TSP Bubble的不良发生率由最初的68 %降低到0.1 %以下。

在触控产品的制作过程中, 气泡线不良严重影响着产品的外观品质。本文从气泡线的产生机理入手进行研究, 发现该不良是由贴附偏光片时传感器保护层有机膜段差处与偏光片之间残留气泡导致。本文从设计面、工艺面对气泡线的影响因子进行了研究, 实验发现有机膜边界设计位置、有机膜厚度、偏光片贴附相关工艺以及偏光片中PSA厚度对气泡线不良影响显著。其中有机膜边界设计位置远离显示区, 降低有机膜与偏光片交叠宽度, 可以使脱泡时气泡更容易排出而改善气泡线不良; 降低有机膜厚度, 可以减少偏光片贴附时有机膜断差位置气泡积累而改善气泡线不良; 偏光片贴附相关工艺中增加贴附压力、降低贴附速度、增加脱泡时间, 可以减少气泡积累以及增加排出而改善气泡线不良; 增加偏光片中PSA胶层的厚度, 可以在偏光片贴附时获得更大的弹性及压入量, 减少气泡的积累而改善气泡线不良。研究结果表明, 以上改善方法均能有效降低气泡线的发生率, 实际生产时可采用组合对策, 避免气泡线不良的发生。

对一款有Sensor横纹的Incell产品进行研究,通过系列的实验分析及与其他无横纹的产品对比,找到Sensor横纹产生的机理并给出相应的方法,实验表明,该方法可以有效解决设计和应用中可能产生的横纹问题。

目前投射电容式触摸屏被广泛应用于智能手机等移动终端, 本文总结了常见触摸屏的基本原理和结构, 重点讲述了内置触控技术的发展。全内置触控技术(full In-cell)将触控IC和显示IC整合在一起, 有利于降低成本、实现薄型化, 是触控发展的终极目标。为了提升非晶硅产品的附加值, 制备了13.46 cm触摸屏, 触控走线和数据线位于同层并行排列, 相较现有技术, 省去了有机膜层和第三金属层(M3), 工艺制程和非In-cell产品完全一致, 至少可以节省两张光罩, 材料成本和制程优势明显。触控采用小坑扫描方式可以达到120 Hz, 关键触控性能指标准确度、精确度、线性度及抖动均可满足行业标准, 且显示性能和可靠性可达到非In-cell产品同等水平。

随着显示技术的不断发展，集成触摸屏的液晶显示(LCD)在日常生产与生活中得到了广泛的应用。良好的触屏显示在人机交互方式上扮演着重要角色。然而，外挂式触摸屏在薄化后，触控感测部件和LCD驱动部件之间的距离减小，造成两者之间更紧密的耦合，导致LCD对触摸屏的噪声干扰更加严重，造成误触摸情况发生。为此，我们通过本文研究发现，调节源极数据驱动IC的内置功能及数据信号的驱动方式，可有效改善噪声干扰问题。首先，根据TFT面板阵列的排布，针对性调节源极数据驱动信号，观察噪声干扰的程度。实验结果表明：降低源极数据驱动能力，或更改数据信号的驱动方式为H2Dot时，噪声最大的sub V-stripe画面下的噪声干扰峰值可下降75%。基于上述解决方案，达到了降低噪声干扰的目的，提供给用户更精准、灵敏的触控体验。

在以往的诸多电法测井数值模拟研究过程中, 大多数研究均将重心放在数值模拟软件的选取以及算法的精进等部分, 使得模拟的结果很难用统一的标准进行评判, 并且在实际的测井过程中, 电阻率值是采用真实的采集仪器获取的。为了减少软件和算法的影响, 研究过程不脱离实物, 本文将阐述如何将串口触摸屏等硬件与既定的ANSYS软件相结合, 利用串口显示屏可自行编程以及ANSYS软件自带有限元算法特性, 构建了一套虚拟的三侧向测井仪模型。实验结果表明: (1)在测量过程随着地层厚度的增加, 视电阻率值不断上升; 当目的层厚度高于2.00 m视电阻率值就近视于真实的地层电阻率值。(2)随着井径长度从0.2 m逐渐增大,视电阻率也随之下降。以上两项结果量化了地层厚度与井径对电法测井的影响, 同时也证明了该套模型的可行性。