作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京210016
基于SiC宽禁带半导体材料及器件,实现了SiC宽禁带器件与超高真空器件的混合兼容设计与制备,研制了一种新型的SiC基真空‑固态混合光电探测器,光敏面有效直径25 mm,器件电子轰击增益近200倍,响应信号半高宽4.5 ns。为真空‑固态混合光电探测器件理论研究与工程应用的深入推进奠定了基础。
真空‑固态混合光电探测器 碳化硅 电子增益 响应时间 vacuum solid-state hybrid photodetector SiC electron gain response time 
光电子技术
2023, 43(4): 283
作者单位
摘要
1 西安电子科技大学 物理学院,西安7007
2 中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450047
3 中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京210016
介绍了光学相控阵激光雷达天线技术研究的国内外现状,阐述了其基本原理和系统组成,并对级联式的硅基光学相控阵激光雷达天线技术方案进行了分析,在此基础上开展了高密度低串扰波导阵列技术和层叠光学相控阵技术等关键技术攻关,获取了激光雷达系统的关键技术参数,并进一步阐述了需解决的技术问题,最后对该体制激光雷达的应用进行了展望。
激光雷达 光学相控阵 波导阵列 级联式 lidar optical phased array waveguide array cascade 
光电子技术
2022, 42(4): 267
作者单位
摘要
1 东华理工大学 核技术应用教育部工程研究中心,南昌33003
2 中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京10016
对场助光电阴极的发展进行回顾,介绍了场助光电阴极的工作原理,系统总结了三种具有代表性的阴极结构,分别是InP/InGaAsP/InP、 InP/InGaAs、InGaAs/InAsP/InP光电阴极。InP/InGaAsP/InP双异质结结构是场助光电阴极研究的热点,这种结构大多用于长波阈值达到1.3 μm的场助光电阴极;InGaAs异质结结构相对于其他结构具有很高的灵敏度,响应时间快,有利于在条纹变像管中应用;InGaAs/InAsP/InP结构的光电阴极在InP和InGaAs之间提供一层InAsP渐变层,对延长波长阈值非常有利,通过分析不同结构的特点及应用,讨论了场助光电阴极的发展方向以及难点。
场助光电阴极 转移电子光电阴极 铟镓砷 磷化铟 field-assisted photocathode transfer electron photocathode InGaAs InP 
光电子技术
2022, 42(4): 248
作者单位
摘要
1 微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室,南京 210016
2 中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京 210016
针对硅光子集成回路缺少实用化光源的问题,提出了一种1.55 μm波段InP基FP激光器芯片、InP基PIN光电探测器芯片与硅光波导芯片集成模块的设计与制备方法。使用CMOS工艺兼容的硅光无源器件制备工艺,设计并制备了倒拉锥型端面耦合器,与锥形透镜光纤耦合效率为36.7 %。采用微组装对准技术将激光器芯片与硅波导芯片耦合、UV固化胶固化后耦合效率为35.8 %,1 dB耦合对准容差横向为1.2 μm,纵向为0.95 μm。
InP基激光器 硅光波导 端面耦合 混合集成 InP-based laser silicon-based optical waveguide edge coupler hybrid integration 
光电子技术
2020, 40(1): 13
刘亚宁 1,2,*桑鹏 1吕嘉玮 1,2李海涛 1[ ... ]李保权 1,2
作者单位
摘要
1 中国科学院国家空间科学中心, 北京 100190
2 中国科学院大学, 北京 101400
3 中国电子科技集团公司第五十五研究所, 江苏南京 210016
极弱光成像或者单光子成像在夜视、侦查以及空间科学等诸多领域都有迫切的应用需求。电子轰击型有源像素传感器(Electron Bombarded Active Pixel Sensor, EBAPS)具有高灵敏、高分辨率、低噪声、小体积、低功耗的特性, 正成为新一代先进的极弱光成像传感器。针对自主开发 EBAPS的应用需求, 选取了国内生产的有源像素像传感器(Active Pixel Sensor, APS)进行了相机电路开发。并针对穿戴式的资源约束, 选用了小尺寸、低功耗的 FLASH型 FPGA为主控芯片, 完成了 APS相机电路的软硬件设计与开发。测试显示, 在视频工作情况下, 整机功耗 0.6 W, 电子学噪声 6.7 mV, 基本实现了微型低功耗的相机要求, 为穿戴式 EBAPS相机研制奠定了基础。
电子轰击型有源像素传感器 极弱光成像 低功耗 electron bombarded active pixel sensor, FLASH FPGA FLASH FPGA 
红外技术
2019, 41(9): 810
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第五十五研究所, 南京 210016
门控型微通道板光电倍增管是一种具有门选通功能的光电倍增管, 采用该器件构成的探测器组件可以从强背景光中选出所需的信号, 消除强激光对探测器可能造成的损害, 广泛应用于核物理探测、卫星激光测距、时间相关荧光余辉测试等领域。本单位成功研制了外门控型微通道板光电倍增管组件, 解决了最大脉冲线性电流的提升、门信号干扰的优化、高电子增益实现等关键技术问题。探测器组件初步应用于CSNS反角白光中子源测量, 实现了门控测试功能。
微通道板光电倍增管 外门控 最大脉冲线性电流 门信号干扰 micro-channel plate photomultiplier tube external gated pulsed peak current noise induced by gate pulse 
光电子技术
2019, 39(1): 34
作者单位
摘要
1 中国电子科技集团公司, 北京 100846
2 中国电子科技集团公司第五十五研究所, 南京 210016
介绍了光电集成的基本概念以及从光子集成到光电集成的发展历程。从政府政策和企业个体两个层面对比分析了国内外光电集成技术的发展与研究现状, 并详细阐述了光电集成实现的主要技术途径和技术水平现状, 展望了光电集成的未来发展趋势和应用前景。
光电集成 光子集成 互补金属氧化物半导体 硅光子 网络通信 photoelectric integration photonic integration CMOS InP InP silicon photonics network communication 
光电子技术
2017, 37(3): 200
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第五十五研究所, 南京 210016
介绍了EBCMOS探测器的工作原理、器件结构与发展历史。详细阐述了EBS增益机理, 实现了600倍的EBS增益, 并将EBCMOS与几种常见探测器特性进行了深入的对比研究。EBCMOS探测器将真空器件与半导体器件有机结合, 融合了真空光电探测器增益高、响应速度快、光谱灵活和半导体器件空间分辨率高、数字化输出、功耗低和成本低等优点。目前已在生物检测、微光夜视、激光雷达等诸多领域取得了广泛的应用。
电子轰击互补金属氧化物 混合型光电探测器 光电阴极 电子轰击半导体(EBS)增益 激光雷达 EBCMOS hybrid photodetector photocathode electron bombarded semiconductor (EBS) gain lidar 
光电子技术
2016, 36(4): 232
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司 第五十五研究所,南京 210016
混合式探测器(Hybrid Photodetector, HPD)作为一种新型的光电探测器件, 是真空与半导体类结合型探测器件。HPD包括沉积在输入光窗表面的光电探测阴极、固态半导体阳极芯片和保持系统真空度的固态阳极。工作时, 光信号通过沉积在输入光窗表面的光电阴极转化为光电子, 经过高能电场加速后获得高能量轰击阳极半导体芯片表面, 产生大量的电子空穴对, 电子空穴对在半导体内部进行迁移, 并通过自身的雪崩效应实现倍增, 最终以电流信号输出。该探测器摒弃了传统的光电倍增管的微通道板(Micro Channel Plate, MCP)等倍增器件, 克服了倍增单元信号易饱和的缺陷, 增大了探测器的动态范围。HPD探测器综合了光电倍增管的高灵敏度和半导体芯片优异的空间和能量分辨率, 具有探测面积大、探测灵敏度高、倍增效应强、动态范围宽等优点。在高能物理、医学成像和天体物理中有着重要的应用。此外, 该探测器具有多种结构, 分为近贴聚焦结构、交叉聚焦结构和漏斗聚焦结构, 能够满足不同使用范围的探测需求;随着半导体阳极技术的发展, HPD阳极从单一芯片逐渐过渡到阵列式阳极结构, 满足了大面积探测的需求。同时数字式读出和倍增信号技术的封装技术的发展, 提高了HPD探测器的信号倍增和读出速度, 改善了器件的集成化程度, 有利于探测信号读出速率和信噪比的提升。近年来, 其单光子计数和高动态响应等能力逐步被重视, 将会在未来的光电探测领域发挥更为重要的作用。
混合式光电探测器 光电探测器件 光电倍增管 HPD(Hybrid Photodetector) photodetector PMT (Photomultiplier) 
光电子技术
2015, 35(2): 73
徐鹏霄 1,2,*乔辉 1王仍 1刘诗嘉 1[ ... ]李向阳 1
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100039
针对现有微透镜加工方法难以在红外探测器衬底材料CdZnTe上实现大孔径、深浮雕微透镜制备, 提出了一种利用ICP-RIE干法刻蚀结合化学湿法腐蚀制备折射微透镜的方法, 通过采用多次光刻套刻后分别对CdZnTe材料进行高刻蚀速率、低损伤的ICP-RIE刻蚀, 制备出具有深浮雕结构的微透镜雏形, 最后采用溴-乙醇溶液腐蚀成形, 成功在CdZnTe衬底上制备了深度达60μm的连续深浮雕结构的微透镜线列, 并对该微透镜的面形轮廓和光学性能进行了测试分析, 在红外探测器的微光学元件领域有着巨大的应用前景。
红外探测器 深浮雕 微透镜 CdZnTe CdZnTe infrared detectors deep relief micro-lens ICP-RIE ICP-RIE 
半导体光电
2014, 35(6): 1022

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