作者单位
摘要
湖北工业大学芯片产业学院, 武汉 430068
BaTiO3凭借其较高的电光系数、优良的压电性质和非线性光学性质, 成为制备高性能电光调制器的关键材料。其制备方法、实验条件和衬底的选择等决定了薄膜的质量、生长取向和电光系数等, 进而影响电光调制器的传播损耗、半波电压、消光比等性能。本文从电光调制器的工作原理出发, 围绕BaTiO3薄膜的制备方法、实验条件和薄膜衬底等, 探讨了成膜的取向和质量的影响因素, 分析了各个BaTiO3薄膜制备方法的优缺点, 论述了波导的结构及参数, 并展望了未来优化BaTiO3薄膜制备和波导制作工艺的方向。
BaTiO3薄膜 电光调制器 波导 电光系数 化学气相沉积法 分子束外延法 BaTiO3 thin film electro-optic modulator waveguide electro-optic coefficient chemical vapor deposition method molecular beam epitaxy method 
人工晶体学报
2023, 52(4): 688
作者单位
摘要
石墨烯和光子晶体光纤(PCF)都拥有良好的光学特性, 但是通过湿法转移只能将石墨烯薄膜转移/涂覆在光纤表面或端面, 内部的空气孔因为直径太小无法转移。 因此, 利用化学气相沉积法(CVD)将碳源分解为碳原子, 使其在光纤空气孔中形成形核点, 在PCF内孔生长石墨烯薄膜。 重点研究了通过控制生长条件, 使石墨烯直接在光子晶体光纤空气孔中生长出完整的石墨烯薄膜并且层数可控的技术。 通过扫描电镜表征生长后的石墨烯, 可以清楚的看到石墨烯薄膜的存在并且与光子晶体光纤空气孔紧密结合在一起, 形成石墨烯光纤材料; 通过拉曼光谱表征生长后的石墨烯, 可以看到石墨烯3个特征峰均存在。 改变生长条件比如: 温度、 生长时间、 甲烷气体浓度等发现光子晶体光纤空气孔中的石墨烯D峰与G峰的比值明显减小, 有效降低了石墨烯的缺陷。 结果表明生长时间对石墨烯缺陷降低最为有效, D峰与G峰的比值可以降到0.5左右。 生长时间为5 h时石墨烯生长层数为双层, 通过延长生长时间可以继续降低石墨烯的缺陷程度和增加石墨烯的层数; 温度可以快速分解甲烷进而增加碳原子的形核点, 加快石墨烯薄膜的形成, 但是过高的温度会对石墨烯产生较大的缺陷, 在1 050 ℃之后D峰与G峰的比值不再快速降低。 研究表明石墨烯层数则因为碳原子形核点的增多而不断变厚; 甲烷浓度的增加, 导致气体流速加快, 而空气孔直径太小受到流速影响较大, 导致空气孔内石墨烯的层数波动式增大。 此研究为后续设计基于石墨烯光纤的器件、 探究石墨烯光纤在光学的应用提供了基础。
石墨烯 光子晶体光纤 拉曼光谱 化学气相沉积法 Graphene Photonic crystal fiber Raman spectroscopy Chemical vapor deposition 
光谱学与光谱分析
2020, 40(12): 3659
作者单位
摘要
1 上海师范大学 化学与材料科学学院, 上海 200234
2 中国科学院 上海硅酸盐研究所, 中国科学院特种无机涂层重点实验室, 上海 201899
化学气相沉积法是制备大尺寸、高质量石墨烯的有效方法, 其中金属催化剂的性能直接关系到所制备的石墨烯材料的品质, 因此需对金属催化剂进行表面预处理。本文研究了不同的预处理工艺对常用的铜基底催化剂表面状态的影响, 提出了钝化膏酸洗和电化学抛光协同处理的有效方法, 并对电化学抛光工艺参数(抛光电压、时间)以及铜基底退火工艺(退火温度、时间)等进行了系统研究。研究表明: 电化学抛光电压过高、抛光时间过长容易导致过度抛光, 合适的抛光电压和抛光时间分别为8 V和8 min。退火温度和时间对铜催化剂表面晶粒形态影响较大, 经1000 ℃退火处理30 min后, 铜箔表面晶粒尺寸更大, 分布更均匀。此外, 对CVD法生长制备的石墨烯样品进行表征, 电镜图片和拉曼光谱显示, 获得的石墨烯薄膜的层数较少, 且结构缺陷较少。
铜基底 预处理 化学气相沉积法 石墨烯 copper substrate pretreatment chemical vapor deposition graphene 
无机材料学报
2020, 35(10): 1177
作者单位
摘要
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海 200093
为了提升单层硒化钨(WSe2)薄膜的制备质量,在传统化学气相沉积(CVD)法制备的基础上进行改进,通过引入推拉式小车来制备单层WSe2薄膜,从而构造出可以调控沉积区域、精确控制生长时间,并可实现快速降温的生长方式。采用光学显微镜和原子力显微镜来表征制备材料的尺寸、荧光强度、形貌结构等特性,证明了利用推拉式小车法可成功制备出高质量的单层WSe2薄膜。推拉式小车法可以稳定制备大面积、高质量、单层的WSe2薄膜,为其在信息、能源、生物等前沿领域的应用提供参考。
单层WSe2薄膜 化学气相沉积法 高质量 推拉式小车 monolayer WSe2 film chemical vapor deposition high quality trolley 
光学仪器
2020, 42(4): 88
作者单位
摘要
上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
过渡金属硫系化合物二维材料因其体积小、直接带隙发光等特点,可作为微纳光学结构的优异介质材料而受到广泛关注。通过转移法得到的二维材料微纳光学结构,如光学微腔、微纳传感器等,容易引起材料污染和破损,对结构的功能特性影响很大。通过化学气相沉积法(CVD),将硒化钨直接沉积在6 μm直径的二氧化硅(SiO2)微球上,对微球上的材料进行成分表征,证明在微球上生长出了二维材料硒化钨,且证明了通过化学气相沉积法在曲面上沉积二维材料是可行的。这种化学气相沉积法直接生长的二维材料微纳球腔,有望应用于高性能光学传感器和微纳光源器件中。
化学气相沉积法 二氧化硅微球 硒化钨 chemical vapor deposition (CVD) Silica microspheres WSe2 
光学仪器
2020, 42(4): 41
作者单位
摘要
有研科技集团, 有研国晶辉新材料有限公司, 三河 065201
本文介绍了ZnSe晶体的制备方法及其重要应用背景, 系统地总结了化学气相沉积法(CVD)制备ZnSe过程中产生的各类缺陷, 包括云雾、孔洞和微裂纹、 夹杂、分层和胞状物。采用SEM、体视显微镜、金相显微镜、傅里叶光谱仪等方法对缺陷进行了表征。结合国内外文献和检测结果, 对各类缺陷可能的产生机 理及抑制方法进行了阐述与分析。
化学气相沉积法(CVD) 缺陷 chemical vapor deposition(CVD) ZnSe ZnSe defect 
人工晶体学报
2020, 49(1): 152
作者单位
摘要
上海理工大学 光电与计算机工程学院 集成光机电实验室, 上海 200093
采用化学气相沉积法在SiO2/Si衬底上制备了单层MoS2,再通过300℃硫蒸气处理用聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethyl Methacrylate,PMMA)转移下的单层MoS2.使用原子力显微镜、真空荧光检测和拉曼光谱等手段表征了样品的形貌和光致发光性能.结果表明:经过硫蒸气处理转移后的单层MoS2的光致发光强度比由化学气相沉积法制备的未处理的单层MoS2的光致发光强度增强了约5倍.光致发光强度增强是由于在硫蒸气处理过程中,单层MoS2的部分硫空位被硫原子纳米团簇所填补,从而提高了光致发光效率.此外,分别将单层MoS2转移到SiO2/Si衬底、石英、三氧化铝及氟化镁衬底再经过硫处理后,也观察到了类似的荧光增强现象.
二硫化钼 化学气相沉积法 硫蒸气处理 硫空位 荧光增强 Molybdenum disulfide Chemical vapor deposition Sulfur vapor treatment Sulfur vacancies Enhancement of photoluminescence 
光子学报
2020, 49(3): 0316002
作者单位
摘要
1 福州京东方光电科技有限公司, 福建 福州 350300
2 北京京东方传感技术有限公司, 北京 100176
为了维修TFT-LCD电路缺陷, 利用激光化学气相沉积法(LCVD)沉积钨薄膜, 讨论成膜参数对基底损伤、钨薄膜电阻率的影响。在空气氛围下, 波长为351 nm的脉冲激光诱导W(CO)6裂解成膜, 通过聚焦离子束-扫描电子显微镜(FIB-SEM)观察薄膜横截面研究成膜参数对基底损伤的影响, 再用高精度的电参数测试仪(EPM)测试不同参数下钨薄膜电阻。控制变量法表明, 激光功率或激光束光斑尺寸越大, 薄膜基底损伤越大, 但电阻率越小, 且不沉积薄膜时高功率激光辐射也不会造成基底损伤; 激光辐射速度越大, 基底损伤越小, 但电阻率越大。通过平衡工艺参数, 得到了电阻率为0.96 Ω/μm、对基底无损伤的钨薄膜, 成分分析表明此时W(CO)6已经完全裂解。
激光化学气相沉积法 缺陷维修 电阻率 TFT-LCD TFT-LCD laser chemical vapor deposition defect repair W(CO)6 W(CO)6 electrical resistivity 
液晶与显示
2019, 34(8): 755
作者单位
摘要
京东方科技集团股份有限公司合肥鑫晟工厂, 合肥 230012
为实现氧化物TFT(Indium Gallium Zinc Oxide Thin Film Transistor, IGZO TFT)特性的最优化, 采用I-V数据和SEM(Scanning Electron Microscope)图片研究蚀阻挡层(Etch-Stop Layer, ESL)沉积条件与氧化物TFT特性的关系。通过调整沉积温度、正负极板间距、压力和功率, 分析了PECVD 沉积ESL SiO2的成膜规律, 并对所得到的TFT进行了特性分析。发现ESL膜层致密性过差时, 后期高温工艺会造成水汽进入IGZO半导体膜层, 从而引起TFT 特性恶化。而采用高温、高压力等方法取得高致密性的ESL膜层由于高强度等离子体对IGZO本体的还原反应也会致使TFT 特性劣化。结果表明, 在保证膜层致密性前提下, 等离子体对IGZO本体伤害最小的ESL沉积条件才是最优化的ESL沉积条件。
氧化物半导体 薄膜晶体管液晶显示器 等离子体增强化学气相沉积法 刻蚀阻挡层 oxide semiconductor TFT-LCD plasma chemical enhanced vapor deposition etch-stop layer 
液晶与显示
2019, 34(1): 7
作者单位
摘要
1 西北工业大学 电子信息学院, 陕西 西安 710129
2 焦作师范高等专科学校, 河南 焦作 454001
对于环境检测和高速光通信而言, 高性能紫外光电探测器是关键。利用气相沉积法在无催化剂条件下制备氧化锌纳米线网, 在纳米线网上直接制备光电器件的性能得到了提高。结果显示, 纳米线网光电探测器的光电流为60 ?滋A, 大约是单根纳米线光电器件光电流的15倍。详细讨论纳米线网光电探测器的响应机制发现, 在纳米线网内, 纳米线与纳米线之间的结势垒高度决定了纳米线内部载流子的传输。当紫外光照射纳米线网光电探测器时, 纳米线与纳米线之间结势磊高度的快速变低, 从而提高光电器件的性能。
紫外光电探测器 氧化锌纳米线网 化学气相沉积法 无催化剂 ultraviolet photodetector ZnO nanowires networks CVD catalyst-free 
红外与激光工程
2018, 47(11): 1121002

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